18. ESD-Forum 2024 (Dresden)

Eingeladener Vortrag:

• Plastiksortierung durch Elektrizität 
  
  A. Bachmann – Kaiserin-Friedrich-Gymnasium,  Bad Homburg vor der Höhe
  Preisträgerin Landeswettbewerb „Jugend forscht“ Hessen 2023

Best & Outstanding Paper Awards of EOSESD 2022:

• Advanced CDM Simulation Methodology for High-Speed Interface Design 
  (Best Paper Award)
  U. Ishfaq, K. Domanski, S. Heber, H. Gossner – Intel Deutschland GmbH
• Detection of Electrostatic Discharge with Limited Measurement Bandwidth 
  (Outstanding Paper Award)
  T. Viheriäkoski – Cascade Metrology Oy, P. Tamminen – Danfoss

Sitzung 1: ESD-Grundlagen

• Wie entstehen Gewitterblitze? 
  
  P. Jacob – Jacob Engineering

Sitzung 2: ESD-Design I

• On-Chip ESD Monitors  
  
  G. Bracher, M. Graf, F. Dietz, A. Gaur, F. Lang, F. Schrey – Robert Bosch GmbH
• Modellierung des ESD Snapback-Verhaltens von MOS-Transistoren mit Verilog A 
  
  E. Merkel, H. Wolf – Fraunhofer Institut EMFT, R. Reitbauer, J. Cambieri, B. Roitner – ams-OSRAM AG

Sitzung 3: Externer ESD-Schutz I – Fertigungsprobleme

• Was passiert beim CO2 Schneestrahlreinigen? 
  
  P. Jacob – Jacob Engineering
• Beurteilung von CDM-artigen Risiken in Fertigungen 
  
  R. Gärtner, K. Esmark, T. Lutz, F. zur Nieden, L. Zeitlhöfler – Infineon Technologies AG
• Beseitigung elektrostatischer Aufladungen auf Materialbahnen in Produktionsmaschinen 
  
  W. Schubert – Hochschule für Technik, Wirtschaft und Kultur Leipzig, A. Ohsawa – Tokyo Denki University, Japan

Sitzung 4: ESD-Design II

• Wie kann man effizient ESD-robuste Platinen bzw. Systeme entwickeln? 
  
  M. Ammer, B. Stein – Infineon Technologies AG

Sitzung 5: Externer ESD-Schutz II – ESD-Kontrollprogramme

• Sinkende ESD-Spannungsfestigkeit von elektronischen Bauelementen mit fortschreitenden Assembly-Schritten 
  
  C. Hinz, L. Kadic – Stat-X Deutschland GmbH, P. Krüger – Bundesdruckerei Berlin, J. Thürmer – EPA Design und Control
• CMOS Scaling - Impact on Electronics Production, Identification of affected ESDS and additional Options for Risk Assessments 
  
  S. Neubert – Continental Automotive Technology GmbH
• ESD – Data-driven decision on ESDS data 
  
  P. Astor – Pepperl+Fuchs SE

Sitzung 6: ESD-Messtechnik

• Transiente Simulation von CDM Strömen in einem Multichip Modul basierend auf Messungen und 3D FEM Simulation 
  
  E. Merkel, H. Wolf – Fraunhofer Institut EMFT, M. Graf, G. Dogan, K. Kosbi – Robert Bosch GmbH
• Peakstrom basierter CDM-Test für Dies und Packages 
  
  L. Zeitlhöfler, T. Lutz, F. zur Nieden, K. Esmark, R. Gärtner – Infineon Technologies AG

Sitzung 7: ESD-Kontrolle III – Ionisierung

• Messung und Bewertung von Ionisiergeräten 
  
  W. Stadler – Intel Germany Services GmbH, R. Pfeifle – Wolfgang Warmbier GmbH & Co. KG, A. Vassighi – Intel. Corp.
• Measurement of AC ionizers in Industrial Applications 
  
  S. Neubert – Continental Automotive Technology GmbH